电脑 计时器-电脑系统计时器失效
1.主板检测卡10是哪里的故障？内存电压都正常！！1.8 2.5 都正常！！
2.主板诊断卡显示6.0是什么意思呢？
3.主板诊断卡代码完整列表(55 00 d0 79 AbAF bd是什么意思)
4.电脑故障诊断卡代码显示00是什么故障？代表什么意思呢？
5.电脑主板测试卡显示D5是什么意思？
主板检测卡10是哪里的故障？内存电压都正常！！1.8 2.5 都正常！！
10测试DMA通道0。 CMOS已作初始准备，CMOS状态寄存器即将为日期和时间作初始准备。 第一个64K RAM第0位故障。
其他代码含义：
1、特殊代码"00"和"ff"及其它起始码有三种情况出现：
①已由一系列其它代码之后再出现："00"或"ff"，则主板ok。
②如果将cmos中设置无错误，则不严重的故障不会影响bios自检的继续，而最终出现"00"或"ff"。
③一开机就出现"00"或"ff"或其它起始代码并且不变化则为主板没有运行起来。
2、本表是按代码值从小到大排序，卡中出码顺序不定。
3、未定义的代码表中未列出。
4、对于不同bios（常用ami、award、phoenix）用同一代码代表的意义不同，因此应弄清您所检测的电脑是属于哪一种类型的bios，您可查阅您的电脑使用手册，或从主板上的bios芯片上直接查看，也可以在启动屏幕时直接看到。
5、有少数主板的pci槽只有一部分代码出现，但isa槽有完整自检代码输出。且目前已发现有极个别原装机主板的isa槽无代码输出，而pci槽则有完整代码输出，故建议您在查看代码不成功时，将本双槽卡换到另一种插槽试一下。另外，同一块主板的不同pci槽，有的槽有完整代码送出，如dell810主板只有靠近cpu的一个pci槽有完整代码显示，一直变化到"00"或"ff"，而其它pci槽走到"38"后则不继续变化。
6、复位信号所需时间isa与pci不一定同步，故有可能isa开始出代码，但pci的复位灯还不熄，故pci代码停要起始代码上。
代码对照表
00 . 已显示系统的配置；即将控制INI19引导装入。
01 处理器测试1，处理器状态核实,如果测试失败，循环是无限的。 处理器寄存器的测试即将开始，不可屏蔽中断即将停用。 CPU寄存器测试正在进行或者失败。
02 确定诊断的类型（正常或者制造）。如果键盘缓冲器含有数据就会失效。 停用不可屏蔽中断；通过延迟开始。 CMOS写入／读出正在进行或者失灵。
03 清除8042键盘控制器，发出TESTKBRD命令（AAH） 通电延迟已完成。 ROM BIOS检查部件正在进行或失灵。
04 使8042键盘控制器复位，核实TESTKBRD。 键盘控制器软复位／通电测试。 可编程间隔计时器的测试正在进行或失灵。
05 如果不断重复制造测试1至5，可获得8042控制状态。 已确定软复位／通电；即将启动ROM。 DMA初如准备正在进行或者失灵。
06 使电路片作初始准备，停用、奇偶性、DMA电路片，以及清除DMA电路片，所有页面寄存器和CMOS停机字节。 已启动ROM计算ROM BIOS检查总和，以及检查键盘缓冲器是否清除。 DMA初始页面寄存器读／写测试正在进行或失灵。
07 处理器测试2，核实CPU寄存器的工作。 ROM BIOS检查总和正常，键盘缓冲器已清除，向键盘发出BAT（基本保证测试）命令。 .
08 使CMOS计时器作初始准备，正常的更新计时器的循环。 已向键盘发出BAT命令，即将写入BAT命令。 RAM更新检验正在进行或失灵。
09 EPROM检查总和且必须等于零才通过。 核实键盘的基本保证测试，接着核实键盘命令字节。 第一个64K RAM测试正在进行。
0A 使接口作初始准备。 发出键盘命令字节代码，即将写入命令字节数据。 第一个64K RAM芯片或数据线失灵，移位。
0B 测试8254通道0。 写入键盘控制器命令字节，即将发出引脚23和24的封锁／解锁命令。 第一个64K RAM奇／偶逻辑失灵。
0C 测试8254通道1。 键盘控制器引脚23、24已封锁／解锁；已发出NOP命令。 第一个64K RAN的地址线故障。
0D 1、检查CPU速度是否与系统时钟相匹配。2、检查控制芯片已编程值是否符合初设置。3、通道测试，如果失败，则鸣喇叭。 已处理NOP命令；接着测试CMOS停开寄存器。 第一个64K RAM的奇偶性失灵
0E 测试CMOS停机字节。 CMOS停开寄存器读／写测试；将计算CMOS检查总和。 初始化输入／输出端口地址。
0F 测试扩展的CMOS。 已计算CMOS检查总和写入诊断字节；CMOS开始初始准备。 .
10 测试DMA通道0。 CMOS已作初始准备，CMOS状态寄存器即将为日期和时间作初始准备。 第一个64K RAM第0位故障。
11 测试DMA通道1。 CMOS状态寄存器已作初始准备，即将停用DMA和中断控制器。 第一个64DK RAM第1位故障。
12 测试DMA页面寄存器。 停用DMA控制器1以及中断控制器1和2；即将显示器并使端口B作初始准备。 第一个64DK RAM第2位故障。
13 测试8741键盘控制器接口。 显示器已停用，端口B已作初始准备；即将开始电路片初始化／存储器自动检测。 第一个64DK RAM第3位故障。
14 测试存储器更新触发电路。 电路片初始化／存储器处自动检测结束；8254计时器测试即将开始。 第一个64DK RAM第4位故障。
15 测试开头64K的系统存储器。 第2通道计时器测试了一半；8254第2通道计时器即将完成测试。 第一个64DK RAM第5位故障。
16 建立8259所用的中断矢量表。 第2通道计时器测试结束；8254第1通道计时器即将完成测试。 第一个64DK RAM第6位故障。
17 调准输入／输出工作，若装有BIOS则启用。 第1通道计时器测试结束；8254第0通道计时器即将完成测试。 第一个64DK RAM第7位故障。
18 测试存储器，如果安装选用的BIOS通过，由可绕过。 第0通道计时器测试结束；即将开始更新存储器。 第一个64DK RAM第8位故障。
19 测试第1通道的中断控制器（8259）屏蔽位。 已开始更新存储器，接着将完成存储器的更新。 第一个64DK RAM第9位故障。
1A 测试第2通道的中断控制器（8259）屏蔽位。 正在触发存储器更新线路，即将检查15微秒通／断时间。 第一个64DK RAM第10位故障。
1B 测试CMOS电池电平。 完成存储器更新时间30微秒测试；即将开始基本的64K存储器测试。 第一个64DK RAM第11位故障。
1C 测试CMOS检查总和。 . 第一个64DK RAM第12位故障。
1D 调定CMOS配置。 . 第一个64DK RAM第13位故障。
1E 测定系统存储器的大小，并且把它和CMOS值比较。 . 第一个64DK RAM第14位故障。
1F 测试64K存储器至最高640K。 . 第一个64DK RAM第15位故障。
20 测量固定的8259中断位。 开始基本的64K存储器测试；即将测试地址线。 从属DMA寄存器测试正在进行或失灵。
21 维持不可屏蔽中断（NMI）位（奇偶性或输入／输出通道的检查）。 通过地址线测试；即将触发奇偶性。 主DMA寄存器测试正在进行或失灵。
22 测试8259的中断功能。 结束触发奇偶性；将开始串行数据读／写测试。 主中断屏蔽寄存器测试正在进行或失灵。
23 测试保护方式8086虚拟方式和8086页面方式。 基本的64K串行数据读／写测试正常；即将开始中断矢量初始化之前的任何调节。 从属中断屏蔽存器测试正在进行或失灵。
24 测定1MB以上的扩展存储器。 矢量初始化之前的任何调节完成，即将开始中断矢量的初始准备。 设置ES段地址寄存器注册表到内存高端。
25 测试除头一个64K之后的所有存储器。 完成中断矢量初始准备；将为旋转式断续开始读出8042的输入／输出端口。 装入中断矢量正在进行或失灵。
26 测试保护方式的例外情况。 读出8042的输入／输出端口；即将为旋转式断续开始使全局数据作初始准备。 开启A20地址线；使之参入寻址。
27 确定超高速缓冲存储器的控制或屏蔽RAM。 全1数据初始准备结束；接着将进行中断矢量之后的任何初始准备。 键盘控制器测试正在进行或失灵。
28 确定超高速缓冲存储器的控制或者特别的8042键盘控制器。 完成中断矢量之后的初始准备；即将调定单色方式。 CMOS电源故障／检查总和计算正在进行。
29 . 已调定单色方式，即将调定彩色方式。 CMOS配置有效性的检查正在进行。
2A 使键盘控制器作初始准备。 已调定彩色方式，即将进行ROM测试前的触发奇偶性。 置空64K基本内存。
2B 使磁碟驱动器和控制器作初始准备。 触发奇偶性结束；即将控制任选的ROM检查前所需的任何调节。 屏幕存储器测试正在进行或失灵。
2C 检查串行端口，并使之作初始准备。 完成ROM控制之前的处理；即将查看任选的ROM并加以控制。 屏幕初始准备正在进行或失灵。
2D 检测并行端口，并使之作初始准备。 已完成任选的ROM控制，即将进行ROM回复控制之后任何其他处理的控制。 屏幕回扫测试正在进行或失灵。
2E 使硬磁盘驱动器和控制器作初始准备。 从ROM控制之后的处理复原；如果没有发现EGA／VGA就要进行显示器存储器读／写测试。 检测ROM正在进行。
2F 检测数学协处理器，并使之作初始准备。 没发现EGA／VGA；即将开始显示器存储器读／写测试。 .
30 建立基本内存和扩展内存。 通过显示器存储器读／写测试；即将进行扫描检查。 认为屏幕是可以工作的。
31 检测从C800：0至EFFF：0的选用ROM，并使之作初始准备。 显示器存储器读／写测试或扫描检查失败，即将进行另一种显示器存储器读／写测试。 单色监视器是可以工作的。
32 对主板上COM／LTP／FDD／声音设备等I／O芯片编程使之适合设置值。 通过另一种显示器存储器读／写测试；却将进行另一种显示器扫描检查。 彩色监视器（40列）是可以工作的。
33 . 显示器检查结束；将开始利用调节开关和实际插卡检验显示器的关型。 彩色监视器（80列）是可以工作的。
34 . 已检验显示器适配器；接着将调定显示方式。 计时器滴答声中断测试正在进行或失灵。 35 . 完成调定显示方式；即将检查BIOS ROM的数据区。 停机测试正在进行或失灵。
36 . 已检查BIOS ROM数据区；即将调定通电信息的游标。 门电路中A－20失灵。
37 . 识别通电信息的游标调定已完成；即将显示通电信息。 保护方式中的意外中断。
38 . 完成显示通电信息；即将读出新的游标位置。 RAM测试正在进行或者地址故障＞FFFFH。
39 . 已读出保存游标位置，即将显示引用信息串。 .
3A . 引用信息串显示结束；即将显示发现信息。 间隔计时器通道2测试或失灵。
3B 用OPTI电路片（只是486）使超高速缓冲存储器作初始准备。 已显示发现＜ESC＞信息；虚拟方式，存储器测试即将开始。 按日计算的日历时钟测试正在进行或失灵。
3C 建立允许进入CMOS设置的标志。 . 串行端口测试正在进行或失灵。
3D 初始化键盘／PS2鼠标／PNP设备及总内存节点。 . 并行端口测试正在进行或失灵。
3E 尝试打开L2高速缓存。 . 数学协处理器测试正在进行或失灵。
40 . 已开始准备虚拟方式的测试；即将从存储器来检验。 调整CPU速度，使之与时钟精确匹配。
41 中断已打开，将初始化数据以便于0：0检测内存变换（中断控制器或内存不良） 从存储器检验之后复原；即将准备描述符表。 系统插件板选择失灵。
42 显示窗口进入SETUP。 描述符表已准备好；即将进行虚拟方式作存储器测试。 扩展CMOS RAM故障。
43 若是即插即用BIOS，则串口、并口初始化。 进入虚拟方式；即将为诊断方式实现中断。 . 44 . 已实现中断（如已接通诊断开关；即将使数据作初始准备以检查存储器在0：0返转。） BIOS中断进行初始化。
45 初始化数学协处理器。 数据已作初始准备；即将检查存储器在0：0返转以及找出系统存储器的规模。 .
46 . 测试存储器已返回；存储器大小计算完毕，即将写入页面来测试存储器。 检查只读存储器ROM版本。
47 . 即将在扩展的存储器试写页面；即将基本640K存储器写入页面。
48 . 已将基本存储器写入页面；即将确定1MB以上的存储器。 检查，CMOS重新配置。
49 . 找出1BM以下的存储器并检验；即将确定1MB以上的存储器。 .
4A . 找出1MB以上的存储器并检验；即将检查BIOS ROM数据区。 进行的初始化。
4B . BIOS ROM数据区的检验结束，即将检查＜ESC＞和为软复位清除1MB以上的存储器。 . 4C . 清除1MB以上的存储器(软复位)即将清除1MB以上的存储器. 屏蔽BIOS ROM。. 4D。已清除1MB以上的存储器（软复位）；将保存存储器的大小。 .
4E 若检测到有错误；在显示器上显示错误信息，并等待客户按＜F1＞键继续。 开始存储器的测试：（无软复位）；即将显示第一个64K存储器的测试。 显示版权信息。
4F 读写软、硬盘数据，进行DOS引导。 开始显示存储器的大小，正在测试存储器将使之更新；将进行串行和随机的存储器测试。 .
50 将当前BIOS监时区内的CMOS值存到CMOS中。 完成1MB以下的存储器测试；即将高速存储器的大小以便再定位和掩蔽。 将CPU类型和速度送到屏幕。
51 . 测试1MB以上的存储器。 .
52 所有ISA只读存储器ROM进行初始化，最终给PCI分配IRQ号等初始化工作。 已完成1MB以上的存储器测试；即将准备回到实址方式。 进入键盘检测。
53 如果不是即插即用BIOS，则初始化串口、并口和设置时种值。 保存CPU寄存器和存储器的大小，将进入实址方式。 .
54 . 成功地开启实址方式；即将复原准备停机时保存的寄存器。 扫描“打击键”
55 . 寄存器已复原，将停用门电路A－20的地址线。 .
56 . 成功地停用A－20的地址线；即将检查BIOS ROM数据区。 键盘测试结束。
57 . BIOS ROM数据区检查了一半；继续进行。 .
58 . BIOS ROM的数据区检查结束；将清除发现＜ESC＞信息。 非设置中断测试。
59 . 已清除＜ESC＞信息；信息已显示；即将开始DMA和中断控制器的测试。 .
5A . . 显示按“F2”键进行设置。
5B . . 测试基本内存地址。
5C . . 测试640K基本内存。
60 设置硬盘引导扇区保护功能。 通过DMA页面寄存器的测试；即将检验存储器。 测试扩展内存。
61 显示系统配置表。 存储器检验结束；即将进行DMA＃1基本寄存器的测试。 .
62 开始用中断19H进行系统引导。 通过DMA＃1基本寄存器的测试；即将进行DMA＃2寄存器的测试。 测试扩展内存地址线。
63 . 通过DMA＃2基本寄存器的测试；即将检查BIOS ROM数据区。 .
64 . BIOS ROM数据区检查了一半，继续进行。 .
65 . BIOS ROM数据区检查结束；将把DMA装置1和2编程。 .
66 . DMA装置1和2编程结束；即将使用59号中断控制器作初始准备。 Cache注册表进行优化配置。
67 . 8259初始准备已结束；即将开始键盘测试。 .
68 . . 使外部Cache和CPU内部Cache都工作。
6A . . 测试并显示外部Cache值。
6C . . 显示被屏蔽内容。
6E . . 显示附属配置信息。
70 . . 检测到的错误代码送到屏幕显示。
72 . . 检测配置有否错误。
74 . . 测试实时时钟。
76 . . 扫查键盘错误。
7A . . 锁键盘。
7C . . 设置硬件中断矢量。
7E . . 测试有否安装数学处理器。
80 . 键盘测试开始，正在清除和检查有没有键卡住，即将使键盘复原。 关闭可编程输入／输出设备。
81 . 找出键盘复原的错误卡住的键；即将发出键盘控制端口的测试命令。 .
82 . 键盘控制器接口测试结束，即将写入命令字节和使循环缓冲器作初始准备。 检测和安装固定RS232接口（串口）。
83 . 已写入命令字节，已完成全局数据的初始准备；即将检查有没有键锁住。 .
84 . 已检查有没有锁住的键，即将检查存储器是否与CMOS失配。 检测和安装固定并行口。 85 . 已检查存储器的大小；即将显示软错误和口令或旁通安排。 .
86 . 已检查口令；即将进行旁通安排前的编程。 重新打开可编程I／O设备和检测固定I／O是否有冲突。
87 . 完成安排前的编程；将进行CMOS安排的编程。 .
88 . 从CMOS安排程序复原清除屏幕；即将进行后面的编程。 初始化BIOS数据区。
89 . 完成安排后的编程；即将显示通电屏幕信息。 .
8A . 显示头一个屏幕信息。 进行扩展BIOS数据区初始化。
8B . 显示了信息：即将屏蔽主要和BIOS。 .
8C . 成功地屏蔽主要和BIOS，将开始CMOS后的安排任选项的编程。 进行软驱控制器初始化。
8D . 已经安排任选项编程，接着检查滑了鼠和进行初始准备。 .
8E . 检测了滑鼠以及完成初始准备；即将把硬、软磁盘复位。 .
8F . 软磁盘已检查，该磁碟将作初始准备，随后配备软磁碟。 .
90 . 软磁碟配置结束；将测试硬磁碟的存在。 硬盘控制器进行初始化。
91 . 硬磁碟存在测试结束；随后配置硬磁碟。 局部总线硬盘控制器初始化。
92 . 硬磁碟配置完成；即将检查BIOS ROM的数据区。 跳转到用户路径2。
93 . BIOS ROM的数据区已检查一半；继续进行。 .
94 . BIOS ROM的数据区检查完毕，即调定基本和扩展存储器的大小。 关闭A－20地址线。 95 . 因应滑鼠和硬磁碟47型支持而调节好存储器的大小；即将检验显示存储器。 .
96 . 检验显示存储器后复原；即将进行C800：0任选ROM控制之前的初始准备。 “ES段”注册表清除。
. C800：0任选ROM控制之前的任何初始准备结束，接着进行任选ROM的检查及控制。 . 98 . 任选ROM的控制完成；即将进行任选ROM回复控制之后所需的任何处理。 查找ROM选择。
99 . 任选ROM测试之后所需的任何初始准备结束；即将建立计时器的数据区或打印机基本地址。 .
9A . 调定计时器和打印机基本地址后的返回操作；即调定RS－232基本地址。 屏蔽ROM选择。
9B . 在RS－232基本地址之后返回；即将进行协处理器测试之初始准备。 .
9C . 协处理器测试之前所需初始准备结束；接着使协处理器作初始准备。 建立电源节能管理。
9D . 协处理器作好初始准备，即将进行协处理器测试之后的任何初始准备。 .
9E . 完成协处理器之后的初始准备，将检查扩展键盘，键盘识别符，以及数字锁定。 开放硬件中断。
9F . 已检查扩展键盘，调定识别标志，数字锁接通或断开，将发出键盘识别命令。 .
A0 . 发出键盘识别命令；即将使键盘识别标志复原。 设置时间和日期。
A1 . 键盘识别标志复原；接着进行高速缓冲存储器的测试。 .
A2 . 高速缓冲存储器测试结束；即将显示任何软错误。 检查键盘锁。
A3 . 软错误显示完毕；即将调定键盘打击的速率。 .
A4 . 调好键盘的打击速率，即将制订存储器的等待状态。 键盘重复输入速率的初始化。
A5 . 存储器等候状态制定完毕；接着将清除屏幕。 .
A6 . 屏幕已清除；即将启动奇偶性和不可屏蔽中断。 .
A7 . 已启用不可屏蔽中断和奇偶性；即将进行控制任选的ROM在E000：0之所需的任何初始准备。 .
A8 . 控制ROM在E000：0之前的初始准备结束，接着将控制E000：0之后所需的任何初始准备。 清除“F2”键提示。
A9 . 从控制E000：0 ROM返回，即将进行控制E000：0任选ROM之后所需的任何初始准备。 .
AA . 在E000：0控制任选ROM之后的初始准备结束；即将显示系统的配置。 扫描“F2”键打击。
AC . . 进入设置.
AE . . 清除通电自检标志。
B0 . . 检查非关键性错误。
B2 . . 通电自检完成准备进入操作系统引导。
B4 . . 蜂鸣器响一声。
B6 . . 检测密码设置（可选）。
B8 . . 清除全部描述表。
BC . . 清除校验检查值。
BE 程序缺省值进入控制芯片，符合可调制二进制缺省值表。 . 清除屏幕（可选）。
BF 测试CMOS建立值。 . 检测，提示做资料备份。
C0 初始化高速缓存。 . 用中断19试引导。
C1 内存自检。 . 查找引导扇区中的“55”“AA”标记。
C3 第一个256K内存测试。 . .
C5 从ROM内复制BIOS进行快速自检。 . .
C6 高速缓存自检。 . .
CA 检测Micronies超速缓冲存储器（如果存在），并使之作初始准备。 . .
CC 关断不可屏蔽中断处理器。 . .
EE 处理器意料不到的例外情况。 . .
FF 给予INI19引导装入程序的控制，主板OK。
主板诊断卡显示6.0是什么意思呢？
1、特殊代码“00”和“FF”及其它起始码有三种情况出现：
①已由一系列其它代码之后再出现：“00”或“FF”，则主板OK。
②如果将CMOS中设置无错误，则不严重的故障不会影响BIOS自检的继续，而最终出现“00”或“FF”。
③一开机就出现“00”或“FF”或其它起始代码并且不变化则为板没有运行起来。
2、本表是按代码值从小到大排序，卡中出码顺序不定。
3、未定义的代码表中未列出。
4、对于不同BIOS（常用的AMI、Award、Phoenix）用同一代码所代表的意义有所不同，因此应弄清您所检测的电脑是属于哪一种类型的BIOS，您可查问你的电脑使用手册，或从主板上的BIOS芯片上直接查看，也可以在启动屏幕时直接看到。
5、有少数主板的PCI槽只有前一部分代码出现，但ISA槽则有完整自检代码输出。且目前已发现有极个别原装机主板的ISA槽无代码输出，而PCI槽则有完整代码输出，故建议您在查看代码不成功时，将本双槽卡换到另一种插槽试一下。另外，同一块主板的不同PCI槽，有的槽有完整代码送出，如DELL810主板只有靠近CPU的一个PCI槽有完整的代码显示，一直变化到“00”或“FF”，而其它槽走到“38”则不继续变化。
6、复位信号所需时间ISA与PCI不一定同步，故有可能ISA开始出代码，但PCI的复位灯还不熄，故PCI代码停在起始码上。
代码 Award BIOS Ami BIOS Phoenix BIOS或Tandy 3000 BIOS
00 . 已显示系统的配置；即将控制INI19引导装入。 .
01 处理器测试1，处理器状态核实,如果测试失败，循环是无限的。 处理器寄存器的测试即将开始，不可屏蔽中断即将停用。 CPU寄存器测试正在进行或者失败。
02 确定诊断的类型（正常或者制造）。如果键盘缓冲器含有数据就会失效。 停用不可屏蔽中断；通过延迟开始。 CMOS写入／读出正在进行或者失灵。
03 清除8042键盘控制器，发出TESTKBRD命令（AAH） 通电延迟已完成。 ROM BIOS检查部件正在进行或失灵。
04 使8042键盘控制器复位，核实TESTKBRD。 键盘控制器软复位／通电测试。 可编程间隔计时器的测试正在进行或失灵。
05 如果不断重复制造测试1至5，可获得8042控制状态。 已确定软复位／通电；即将启动ROM。 DMA初如准备正在进行或者失灵。
06 使电路片作初始准备，停用、奇偶性、DMA电路片，以及清除DMA电路片，所有页面寄存器和CMOS停机字节。 已启动ROM计算ROM BIOS检查总和，以及检查键盘缓冲器是否清除。 DMA初始页面寄存器读／写测试正在进行或失灵。
07 处理器测试2，核实CPU寄存器的工作。 ROM BIOS检查总和正常，键盘缓冲器已清除，向键盘发出BAT（基本保证测试）命令。 .
08 使CMOS计时器作初始准备，正常的更新计时器的循环。 已向键盘发出BAT命令，即将写入BAT命令。 RAM更新检验正在进行或失灵。
09 EPROM检查总和且必须等于零才通过。 核实键盘的基本保证测试，接着核实键盘命令字节。 第一个64K RAM测试正在进行。
0A 使接口作初始准备。 发出键盘命令字节代码，即将写入命令字节数据。 第一个64K RAM芯片或数据线失灵，移位。
0B 测试8254通道0。 写入键盘控制器命令字节，即将发出引脚23和24的封锁／解锁命令。 第一个64K RAM奇／偶逻辑失灵。
0C 测试8254通道1。 键盘控制器引脚23、24已封锁／解锁；已发出NOP命令。 第一个64K RAN的地址线故障。
0D 1、检查CPU速度是否与系统时钟相匹配。2、检查控制芯片已编程值是否符合初设置。3、通道测试，如果失败，则鸣喇叭。 已处理NOP命令；接着测试CMOS停开寄存器。 第一个64K RAM的奇偶性失灵
0E 测试CMOS停机字节。 CMOS停开寄存器读／写测试；将计算CMOS检查总和。 初始化输入／输出端口地址。
0F 测试扩展的CMOS。 已计算CMOS检查总和写入诊断字节；CMOS开始初始准备。 .
10 测试DMA通道0。 CMOS已作初始准备，CMOS状态寄存器即将为日期和时间作初始准备。 第一个64K RAM第0位故障。
11 测试DMA通道1。 CMOS状态寄存器已作初始准备，即将停用DMA和中断控制器。 第一个64DK RAM第1位故障。
12 测试DMA页面寄存器。 停用DMA控制器1以及中断控制器1和2；即将显示器并使端口B作初始准备。 第一个64DK RAM第2位故障。
13 测试8741键盘控制器接口。 显示器已停用，端口B已作初始准备；即将开始电路片初始化／存储器自动检测。 第一个64DK RAM第3位故障。
14 测试存储器更新触发电路。 电路片初始化／存储器处自动检测结束；8254计时器测试即将开始。 第一个64DK RAM第4位故障。
15 测试开头64K的系统存储器。 第2通道计时器测试了一半；8254第2通道计时器即将完成测试。 第一个64DK RAM第5位故障。
16 建立8259所用的中断矢量表。 第2通道计时器测试结束；8254第1通道计时器即将完成测试。 第一个64DK RAM第6位故障。
17 调准输入／输出工作，若装有BIOS则启用。 第1通道计时器测试结束；8254第0通道计时器即将完成测试。 第一个64DK RAM第7位故障。
18 测试存储器，如果安装选用的BIOS通过，由可绕过。 第0通道计时器测试结束；即将开始更新存储器。 第一个64DK RAM第8位故障。
19 测试第1通道的中断控制器（8259）屏蔽位。 已开始更新存储器，接着将完成存储器的更新。 第一个64DK RAM第9位故障。
1A 测试第2通道的中断控制器（8259）屏蔽位。 正在触发存储器更新线路，即将检查15微秒通／断时间。 第一个64DK RAM第10位故障。
1B 测试CMOS电池电平。 完成存储器更新时间30微秒测试；即将开始基本的64K存储器测试。 第一个64DK RAM第11位故障。
1C 测试CMOS检查总和。 . 第一个64DK RAM第12位故障。
1D 调定CMOS配置。 . 第一个64DK RAM第13位故障。
1E 测定系统存储器的大小，并且把它和CMOS值比较。 . 第一个64DK RAM第14位故障。
1F 测试64K存储器至最高640K。 . 第一个64DK RAM第15位故障。
20 测量固定的8259中断位。 开始基本的64K存储器测试；即将测试地址线。 从属DMA寄存器测试正在进行或失灵。
21 维持不可屏蔽中断（NMI）位（奇偶性或输入／输出通道的检查）。 通过地址线测试；即将触发奇偶性。 主DMA寄存器测试正在进行或失灵。
22 测试8259的中断功能。 结束触发奇偶性；将开始串行数据读／写测试。 主中断屏蔽寄存器测试正在进行或失灵。
23 测试保护方式8086虚拟方式和8086页面方式。 基本的64K串行数据读／写测试正常；即将开始中断矢量初始化之前的任何调节。 从属中断屏蔽存器测试正在进行或失灵。
24 测定1MB以上的扩展存储器。 矢量初始化之前的任何调节完成，即将开始中断矢量的初始准备。 设置ES段地址寄存器注册表到内存高端。
25 测试除头一个64K之后的所有存储器。 完成中断矢量初始准备；将为旋转式断续开始读出8042的输入／输出端口。 装入中断矢量正在进行或失灵。
26 测试保护方式的例外情况。 读出8042的输入／输出端口；即将为旋转式断续开始使全局数据作初始准备。 开启A20地址线；使之参入寻址。
27 确定超高速缓冲存储器的控制或屏蔽RAM。 全1数据初始准备结束；接着将进行中断矢量之后的任何初始准备。 键盘控制器测试正在进行或失灵。
28 确定超高速缓冲存储器的控制或者特别的8042键盘控制器。 完成中断矢量之后的初始准备；即将调定单色方式。 CMOS电源故障／检查总和计算正在进行。
29 . 已调定单色方式，即将调定彩色方式。 CMOS配置有效性的检查正在进行。
2A 使键盘控制器作初始准备。 已调定彩色方式，即将进行ROM测试前的触发奇偶性。 置空64K基本内存。
2B 使磁碟驱动器和控制器作初始准备。 触发奇偶性结束；即将控制任选的ROM检查前所需的任何调节。 屏幕存储器测试正在进行或失灵。
2C 检查串行端口，并使之作初始准备。 完成ROM控制之前的处理；即将查看任选的ROM并加以控制。 屏幕初始准备正在进行或失灵。
2D 检测并行端口，并使之作初始准备。 已完成任选的ROM控制，即将进行ROM回复控制之后任何其他处理的控制。 屏幕回扫测试正在进行或失灵。
2E 使硬磁盘驱动器和控制器作初始准备。 从ROM控制之后的处理复原；如果没有发现EGA／VGA就要进行显示器存储器读／写测试。 检测ROM正在进行。
2F 检测数学协处理器，并使之作初始准备。 没发现EGA／VGA；即将开始显示器存储器读／写测试。 .
30 建立基本内存和扩展内存。 通过显示器存储器读／写测试；即将进行扫描检查。 认为屏幕是可以工作的。
31 检测从C800：0至EFFF：0的选用ROM，并使之作初始准备。 显示器存储器读／写测试或扫描检查失败，即将进行另一种显示器存储器读／写测试。 单色监视器是可以工作的。
32 对主板上COM／LTP／FDD／声音设备等I／O芯片编程使之适合设置值。 通过另一种显示器存储器读／写测试；却将进行另一种显示器扫描检查。 彩色监视器（40列）是可以工作的。
33 . 显示器检查结束；将开始利用调节开关和实际插卡检验显示器的关型。 彩色监视器（80列）是可以工作的。
34 . 已检验显示器适配器；接着将调定显示方式。 计时器滴答声中断测试正在进行或失灵。
35 . 完成调定显示方式；即将检查BIOS ROM的数据区。 停机测试正在进行或失灵。
36 . 已检查BIOS ROM数据区；即将调定通电信息的游标。 门电路中A－20失灵。
37 . 识别通电信息的游标调定已完成；即将显示通电信息。 保护方式中的意外中断。
38 . 完成显示通电信息；即将读出新的游标位置。 RAM测试正在进行或者地址故障＞FFFFH。
39 . 已读出保存游标位置，即将显示引用信息串。 .
3A . 引用信息串显示结束；即将显示发现<ESC>信息。 间隔计时器通道2测试或失灵。
3B 用OPTI电路片（只是486）使超高速缓冲存储器作初始准备。 已显示发现＜ESC＞信息；虚拟方式，存储器测试即将开始。 按日计算的日历时钟测试正在进行或失灵。
3C 建立允许进入CMOS设置的标志。 . 串行端口测试正在进行或失灵。
3D 初始化键盘／PS2鼠标／PNP设备及总内存节点。 . 并行端口测试正在进行或失灵。
3E 尝试打开L2高速缓存。 . 数学协处理器测试正在进行或失灵。
40 . 已开始准备虚拟方式的测试；即将从存储器来检验。 调整CPU速度，使之与时钟精确匹配。
41 中断已打开，将初始化数据以便于0：0检测内存变换（中断控制器或内存不良） 从存储器检验之后复原；即将准备描述符表。 系统插件板选择失灵。
42 显示窗口进入SETUP。 描述符表已准备好；即将进行虚拟方式作存储器测试。 扩展CMOS RAM故障。
43 若是即插即用BIOS，则串口、并口初始化。 进入虚拟方式；即将为诊断方式实现中断。 .
44 . 已实现中断（如已接通诊断开关；即将使数据作初始准备以检查存储器在0：0返转。） BIOS中断进行初始化。
45 初始化数学协处理器。 数据已作初始准备；即将检查存储器在0：0返转以及找出系统存储器的规模。 .
46 . 测试存储器已返回；存储器大小计算完毕，即将写入页面来测试存储器。 检查只读存储器ROM版本。
47 . 即将在扩展的存储器试写页面；即将基本640K存储器写入页面。 .
48 . 已将基本存储器写入页面；即将确定1MB以上的存储器。 检查，CMOS重新配置。
49 . 找出1BM以下的存储器并检验；即将确定1MB以上的存储器。 .
4A . 找出1MB以上的存储器并检验；即将检查BIOS ROM数据区。 进行的初始化。
4B . BIOS ROM数据区的检验结束，即将检查＜ESC＞和为软复位清除1MB以上的存储器。 .
4C . 清除1MB以上的存储器(软复位)即将清除1MB以上的存储器. 屏蔽BIOS ROM。.
4D 已清除1MB以上的存储器（软复位）；将保存存储器的大小。 .
4E 若检测到有错误；在显示器上显示错误信息，并等待客户按＜F1＞键继续。 开始存储器的测试：（无软复位）；即将显示第一个64K存储器的测试。 显示版权信息。
4F 读写软、硬盘数据，进行DOS引导。 开始显示存储器的大小，正在测试存储器将使之更新；将进行串行和随机的存储器测试。 .
50 将当前BIOS监时区内的CMOS值存到CMOS中。 完成1MB以下的存储器测试；即将高速存储器的大小以便再定位和掩蔽。 将CPU类型和速度送到屏幕。
51 . 测试1MB以上的存储器。 .
52 所有ISA只读存储器ROM进行初始化，最终给PCI分配IRQ号等初始化工作。 已完成1MB以上的存储器测试；即将准备回到实址方式。 进入键盘检测。
53 如果不是即插即用BIOS，则初始化串口、并口和设置时种值。 保存CPU寄存器和存储器的大小，将进入实址方式。 .
54 . 成功地开启实址方式；即将复原准备停机时保存的寄存器。 扫描“打击键”
55 . 寄存器已复原，将停用门电路A－20的地址线。 .
56 . 成功地停用A－20的地址线；即将检查BIOS ROM数据区。 键盘测试结束。
57 . BIOS ROM数据区检查了一半；继续进行。 .
58 . BIOS ROM的数据区检查结束；将清除发现＜ESC＞信息。 非设置中断测试。
59 . 已清除＜ESC＞信息；信息已显示；即将开始DMA和中断控制器的测试。 .
5A . . 显示按“F2”键进行设置。
5B . . 测试基本内存地址。
5C . . 测试640K基本内存。
60 设置硬盘引导扇区保护功能。 通过DMA页面寄存器的测试；即将检验存储器。 测试扩展内存。
61 显示系统配置表。 存储器检验结束；即将进行DMA＃1基本寄存器的测试。 .
62 开始用中断19H进行系统引导。 通过DMA＃1基本寄存器的测试；即将进行DMA＃2寄存器的测试。 测试扩展内存地址线。
63 . 通过DMA＃2基本寄存器的测试；即将检查BIOS ROM数据区。 .
64 . BIOS ROM数据区检查了一半，继续进行。 .
65 . BIOS ROM数据区检查结束；将把DMA装置1和2编程。 .
66 . DMA装置1和2编程结束；即将使用59号中断控制器作初始准备。 Cache注册表进行优化配置。
67 . 8259初始准备已结束；即将开始键盘测试。 .
68 . . 使外部Cache和CPU内部Cache都工作。
6A . . 测试并显示外部Cache值。
6C . . 显示被屏蔽内容。
6E . . 显示附属配置信息。
70 . . 检测到的错误代码送到屏幕显示。
72 . . 检测配置有否错误。
74 . . 测试实时时钟。
76 . . 扫查键盘错误。
7A . . 锁键盘。
7C . . 设置硬件中断矢量。
7E . . 测试有否安装数学处理器。
80 . 键盘测试开始，正在清除和检查有没有键卡住，即将使键盘复原。 关闭可编程输入／输出设备。
81 . 找出键盘复原的错误卡住的键；即将发出键盘控制端口的测试命令。 .
82 . 键盘控制器接口测试结束，即将写入命令字节和使循环缓冲器作初始准备。 检测和安装固定RS232接口（串口）。
83 . 已写入命令字节，已完成全局数据的初始准备；即将检查有没有键锁住。 .
84 . 已检查有没有锁住的键，即将检查存储器是否与CMOS失配。 检测和安装固定并行口。
85 . 已检查存储器的大小；即将显示软错误和口令或旁通安排。 .
86 . 已检查口令；即将进行旁通安排前的编程。 重新打开可编程I／O设备和检测固定I／O是否有冲突。
87 . 完成安排前的编程；将进行CMOS安排的编程。 .
88 . 从CMOS安排程序复原清除屏幕；即将进行后面的编程。 初始化BIOS数据区。
89 . 完成安排后的编程；即将显示通电屏幕信息。 .
8A . 显示头一个屏幕信息。 进行扩展BIOS数据区初始化。
8B . 显示了信息：即将屏蔽主要和BIOS。 .
8C . 成功地屏蔽主要和BIOS，将开始CMOS后的安排任选项的编程。 进行软驱控制器初始化。
8D . 已经安排任选项编程，接着检查滑了鼠和进行初始准备。 .
8E . 检测了滑鼠以及完成初始准备；即将把硬、软磁盘复位。 .
8F . 软磁盘已检查，该磁碟将作初始准备，随后配备软磁碟。 .
90 . 软磁碟配置结束；将测试硬磁碟的存在。 硬盘控制器进行初始化。
91 . 硬磁碟存在测试结束；随后配置硬磁碟。 局部总线硬盘控制器初始化。
92 . 硬磁碟配置完成；即将检查BIOS ROM的数据区。 跳转到用户路径2。
93 . BIOS ROM的数据区已检查一半；继续进行。 .
94 . BIOS ROM的数据区检查完毕，即调定基本和扩展存储器的大小。 关闭A－20地址线。
95 . 因应滑鼠和硬磁碟47型支持而调节好存储器的大小；即将检验显示存储器。 .
96 . 检验显示存储器后复原；即将进行C800：0任选ROM控制之前的初始准备。 “ES段”注册表清除。
. C800：0任选ROM控制之前的任何初始准备结束，接着进行任选ROM的检查及控制。 .
98 . 任选ROM的控制完成；即将进行任选ROM回复控制之后所需的任何处理。 查找ROM选择。
99 . 任选ROM测试之后所需的任何初始准备结束；即将建立计时器的数据区或打印机基本地址。 .
9A . 调定计时器和打印机基本地址后的返回操作；即调定RS－232基本地址。 屏蔽ROM选择。
9B . 在RS－232基本地址之后返回；即将进行协处理器测试之初始准备。 .
9C . 协处理器测试之前所需初始准备结束；接着使协处理器作初始准备。 建立电源节能管理。
9D . 协处理器作好初始准备，即将进行协处理器测试之后的任何初始准备。 .
9E . 完成协处理器之后的初始准备，将检查扩展键盘，键盘识别符，以及数字锁定。 开放硬件中断。
9F . 已检查扩展键盘，调定识别标志，数字锁接通或断开，将发出键盘识别命令。 .
A0 . 发出键盘识别命令；即将使键盘识别标志复原。 设置时间和日期。
A1 . 键盘识别标志复原；接着进行高速缓冲存储器的测试。 .
A2 . 高速缓冲存储器测试结束；即将显示任何软错误。 检查键盘锁。
A3 . 软错误显示完毕；即将调定键盘打击的速率。 .
A4 . 调好键盘的打击速率，即将制订存储器的等待状态。 键盘重复输入速率的初始化。
A5 . 存储器等候状态制定完毕；接着将清除屏幕。 .
A6 . 屏幕已清除；即将启动奇偶性和不可屏蔽中断。 .
A7 . 已启用不可屏蔽中断和奇偶性；即将进行控制任选的ROM在E000：0之所需的任何初始准备。 .
A8 . 控制ROM在E000：0之前的初始准备结束，接着将控制E000：0之后所需的任何初始准备。 清除“F2”键提示。
A9 . 从控制E000：0 ROM返回，即将进行控制E000：0任选ROM之后所需的任何初始准备。 .
AA . 在E000：0控制任选ROM之后的初始准备结束；即将显示系统的配置。 扫描“F2”键打击。
AC . . 进入设置.
AE . . 清除通电自检标志。
B0 . . 检查非关键性错误。
B2 . . 通电自检完成准备进入操作系统引导。
B4 . . 蜂鸣器响一声。
B6 . . 检测密码设置（可选）。
B8 . . 清除全部描述表。
BC . . 清除校验检查值。
BE 程序缺省值进入控制芯片，符合可调制二进制缺省值表。 . 清除屏幕（可选）。
BF 测试CMOS建立值。 . 检测，提示做资料备份。
C0 初始化高速缓存。 . 用中断19试引导。
C1 内存自检。 . 查找引导扇区中的“55”“AA”标记。
C3 第一个256K内存测试。 . .
C5 从ROM内复制BIOS进行快速自检。 . .
C6 高速缓存自检。 . .
CA 检测Micronies超速缓冲存储器（如果存在），并使之作初始准备。 . .
CC 关断不可屏蔽中断处理器。 . .
EE 处理器意料不到的例外情况。 . .
FF 给予INI19引导装入程序的控制，主板OK.
主板诊断卡代码完整列表(55 00 d0 79 AbAF bd是什么意思)
一般来说，代码：FF、00、C0、D0、CF、F1或者什么都没有都表示CPU出现故障。
C1、C6、C3、D3、D4、D6、D8、B0、A7、E1表示内存不过剩。
24、25、26、01、0A、0B、2A、2B和31表示显卡不是
有些集成显卡主板23、24、25表示可以正常点亮，有些VIA芯片组显示器13表示可以点亮，有些品牌机显示器0B表示可以正常点亮，有些主板显示器4E表示可以正常点亮，有些英特尔芯片组显示器26或16表示可以正常点亮。
C1，C6，C3，01，02，循环跳跃的组合，大多是坏的I/O或BIOS。
如果显示05，ED，41，直接刷BIOS 00。系统配置已显示；也就是说，控制INI19被引导。
01处理器测试1，处理器状态验证，如果测试失败，循环无限。处理器的测试即将开始，非屏蔽中断即将被禁用。CPU测试正在进行或失败。
02确定诊断类型。如果键盘缓冲区包含数据，它将是无效的。禁用非屏蔽中断；从拖延开始。CMOS写入/读取正在进行或失败。
03清除8042键盘控制器并发出TESTKBRD命令。开机延迟已完成。BIOS检查组件正在运行或出现故障。
04重置8042键盘控制器并验证TESTKBRD。键盘控制器软复位/开机测试。可编程间隔计时器的测试正在进行或出现故障。
05如果连续重复制造测试1至5，可获得8042控制状态。确定软复位/上电；ROM将很快启动。DMA初始准备正在进行或失败。
06做好电路芯片的初始准备，禁用、奇偶和DMA电路芯片，清除DMA电路芯片、所有页寄存器和CMOS停止字节。已启动ROM来计算ROM BIOS校验和，并检查键盘缓冲区是否被清除。初始DMA页面寄存器读/写测试正在进行或失败。
07处理器测试2验证CPU寄存器的操作。BIOS校验和正常，键盘缓冲区已经清空，BAT命令发送到键盘。
08使CMOS定时器进行初始准备，并正常更新定时器周期。BAT命令已经下到键盘了，马上就要写了。RAM更新检查正在进行中或出现故障。
09 EPROM检查总和，在通过之前必须等于零。验证键盘的基本保证测试，然后验证键盘命令字节。第一个64K内存测试正在进行中。
为接口做初步准备。发布键盘命令字节码，即写命令字节数据。第一个64K RAM芯片或数据线出现故障并移位。
测试8254通道0。写入键盘控制器命令字节，即23号和24号管脚的锁定/解锁命令将被发出。第一个64K RAM奇/偶逻辑失败。
测试0c8254通道1。键盘控制器引脚23、24被锁定/解锁；已发出NOP命令。第一个64K RAN的地址线出现故障。
0d。检查CPU速度是否与系统时钟匹配。2.检查控制芯片的编程值是否符合初始设置。3.通道测试。如果失败，按喇叭。NOP命令已被处理；然后测试CMOS停止寄存器。第一个64K RAM的奇偶校验失败
测试CMOS停止字节。CMOS停止寄存器读/写测试：将计算CMOS校验和。初始化I/O端口地址。
0F测试扩展CMOS。将计算的CMOS校验和写入诊断字节；CMOS开始初始准备。
10测试DMA通道0。CMOS已初步准备好，CMOS状态寄存器将初步准备好日期和时间。第一个64K RAM的位0出现故障。
1测试DMA通道1。CMOS状态寄存器已初步准备好，DMA和中断控制器将被禁用。第一个64DK RAM的第一位出现故障。
12测试DMA页面寄存器。停用DMA控制器1以及中断控制器1和2；也就是说，显示器和端口B是初始准备的。第一个64DK RAM的第2位出现故障。
1测试8741键盘控制器接口。显示已停用，端口B已初步准备好；即开始电路芯片的初始化/存储器的自动检测。第一个64DK RAM的第3位出现故障。
14测试存储器更新触发电路。存储器中芯片初始化/自动检测结束；854定时器测试即将开始。第一个64DK RAM的第4位出现故障。
15一开始测试64K的系统内存。第二信道定时器被半测试；854通道2计时器即将完成测试。第一个64DK RAM的第5位出现故障。
6建立8259使用的中断向量表。通道2定时器测试结束；854通道1计时器即将完成测试。第一个64DK RAM的第6位出现故障。
17调整输入/输出，如果安装了BIOS，则启用它。通道1定时器测试结束；854通道0计时器即将完成测试。第一个64DK RAM的第7位出现故障。
18测试显存。如果安装了可选的BIOS，可以绕过它。通道0定时器测试结束；更新内存即将开始。第一个64DK RAM的第8位出现故障。
19测试通道1的中断控制器屏蔽位。存储器的更新已经开始，然后存储器的更新将完成。第一个64DK RAM的第9位出现故障。
1A测试通道2的中断控制器屏蔽位。触发内存更新线，即将检查15微秒的开/关时间。第一个64DK RAM的第10位出现故障。
1B测试CMOS电池水平。完成内存更新时间30微秒测试；基本的64K内存测试即将开始。第一个64DK RAM的第11位出现故障。
1C测试CMOS校验和。第一个64DK RAM的第12位出现故障。
1D设置CMOS配置。第一个64DK RAM的第13位出现故障。
1E测量系统内存的大小，并与CMOS值进行比较。第一个64DK RAM的第14位出现故障。
测试1F 64K内存最高640K。第一个64DK RAM的第15位出现故障。
20测量固定的8259中断位。开始基本的64K内存测试；将测试地址线。从属DMA寄存器测试正在进行或失败。
21保持非屏蔽中断位。通过地址线测试；即将引发平价。主DMA寄存器测试正在进行或失败。
2测试8259的中断功能。结束奇偶校验；将开始串行数据读/写测试。主中断屏蔽寄存器测试正在进行或失败。
23测试保护模式8086虚拟模式和8086页面模式。基本64K串行数据读写测试正常；中断向量初始化开始前的任何调整。从机中断屏蔽存储器测试正在进行或失败。
24测量1MB以上的扩展内存。完成矢量初始化之前的任何调整后，将开始中断矢量的初始准备。将ES段地址寄存器注册表设置为内存的高端。
25测试除前64K以外的所有内存。完成中断向量的初始准备；8042的I/O端口将被读出用于旋转间歇启动。加载中断向量正在进行中或出现故障。
26测试保护方法的例外。读出8042的输入/输出端口；也就是说，全局数据最初是为旋转间歇启动准备的。打开A20地址行；让它参与寻址。
27确定高速缓冲存储器的控制或屏蔽RAM。1所有数据的初始准备工作已经完成；然后，将执行中断向量之后的任何初始准备。键盘控制器测试正在进行中或出现故障。
28确定控制高速缓冲存储器或专用8042键盘控制器。完成中断向量后的初始准备；将调整订单颜色模式。CMOS电源故障/校验和计算正在进行中。
29.订单颜色模式已调整，即颜色模式将调整。正在检查CMOS配置的有效性。
2A让键盘控制器做最初的准备。颜色模式已经设置，ROM测试前的触发奇偶校验即将进行。清空64K基本内存。
2B为磁盘驱动器和控制器做初步准备。触发奇偶校验结束；即控制可选ROM检查之前所需的任何调整。屏幕测试正在进行中或出现故障。
2C检查串口，做好初始准备。在控制ROM之前完成处理；检查可选ROM并控制它。屏幕的初始准备正在进行或出现故障。
检测2D并口，做好初步准备。可选的ROM控制已经完成，也就是说，将执行ROM恢复控制之后的任何其他处理的控制。屏幕扫描测试正在进行中或出现故障。
2E为硬盘驱动器和控制器做初步准备。从rom控制后的处理中恢复；如果找不到EGA/VGA，应进行显示器内存读/写测试。ROM检测正在进行中。
2F检查数学协处理器，并做初步准备。找不到EGA/VGA；监视器内存读/写测试即将开始。
30建立基本记忆和扩展记忆。通过显示存储器读/写测试；即将进行扫描检查。觉得屏幕能用。
31检查从C800: 0到EFFF: 0的ROM，并进行初始准备。监控内存读/写测试或扫描检查失败，将很快进行另一次监控内存读/写测试。单色显示器可以工作。
32.对主板上的COM/LTP/FDD/音频设备等I/O芯片进行编程，以适应设定值。通过另一个显示存储器读/写测试；但是将执行另一个监视器扫描检查。彩色显示器可以工作。
33.监控检查完成；将开始使用调整开关和实际卡来检查显示 off-type。彩色显示器可以工作。
34.已经检查了监视器适配器；接下来，将设置显示模式。定时器滴答中断测试正在进行或失败。
35.完成显示模式的设置；检查BIOS ROM的数据区。测试正在进行中或出现故障。
36.已检查BIOS ROM数据区；将设置光标的开机信息。门电路a-20失效。
37.用于识别开机信息的光标设置已经完成；将显示开机信息。保护模式中的意外中断。
38.完成开机信息的显示；将读出新的光标位置。RAM测试正在进行中，或者地址错误为 gt FFFFH。
39.保存光标位置已被读出，参考信息字符串将很快显示。
3A。参考信息串显示完成；即将显示发现信息。间隔计时器通道2测试或失败。
使用OPTI电路芯片为高速缓冲存储器做初步准备。 lt ESC 已显示找到的信息；虚拟模式下，内存测试即将开始。每日日历时钟测试正在进行中或出现故障。
3C建立了一个允许访问CMOS设置的标志。串行端口测试正在进行中或出现故障。
初始化3D键盘//PS2鼠标//PNP设备和总内存节点。并行端口测试正在进行中或出现故障。
3E试图打开L2的缓存。数学协处理器测试正在进行中或出现故障。
40.虚拟模式的测试已经开始；将从存储器中检查。调整CPU速度以精确匹配外设时钟。
41中断已开启，以便0: 0检测内存转换后，初始化数据可从显存中恢复；准备描述符表。系统板选择失败。
42显示进入设置的窗口。描述符表已准备好；虚拟模式将用于内存测试。扩展CMOS RAM故障。
43如果即插即用BIOS，串行端口和并行端口被初始化。进入虚拟模式；即将为诊断模式执行中断。
44.中断已经实现用于初始化的BIOS中断。
45初始化数学协处理器。数据已初步准备好；也就是检查内存回滚到0: 0，找出系统内存的大小。
46.测试内存已返回；计算内存大小后，将写入页面来测试内存。检查只读存储器的ROM版本。
47.尝试在扩展内存中写入页面；也就是说，基本的640K内存被写入页面。
48.基本内存已写入页面；1MB以上的内存就确定了。检测，CMOS重新配置。
49.找出1BM以下的内存，检查一下；1MB以上的内存就确定了。
4A。找出1MB以上的内存进行检查；检查BIOS ROM数据区。初始化。
4b。BIOS ROM数据区验证完成后，即将检查 lt ESC 并清空1MB以上的内存进行软复位。
4C。清除1MB以上的内存，即清除1MB以上的内存。阻止BIOS ROM。
4D清除了超过1MB的内存；将节省内存的大小。
如果检测到错误，则4E；在显示屏上显示错误消息，并等待客户按下 lt F1 gt键继续。开始内存测试：；第一个64K内存的测试即将展示。显示版权信息。
4F读写软盘和硬盘数据，用于DOS引导。开始显示内存的大小，被测内存会更新；将执行串行和随机存储器测试。
50将当前BIOS监控时区的CMOS值保存到CMOS中。完成1MB以下的内存测试；即用于重定位和屏蔽的高速存储器的大小。将CPU类型和速度发送到屏幕上。
51.测试1MB以上的内存。
52初始化所有ISA ROM，最后将IRQ号分配给PCI。1MB以上的内存测试已经完成；准备返回实际地址模式。进入键盘测试。
5如果不是即插即用BIOS，则初始化串行端口、并行端口并设置时间值。节省CPU寄存器和内存的大小，进入实地址模式。
54.成功开启真实地址模式；准备关机时保存的寄存器将被恢复。扫描 quot击键 quot
5.寄存器已经恢复，A-20门的地址线将被停用。
56.成功禁用A-20的地址线；检查BIOS ROM数据区。键盘测试结束了。
57.BIOS ROM数据区检查一半；去吧。
58.BIOS ROM的数据区检查完成；发现 lt ESC 信息将被清除。设置非破坏性测试。
59. lt ESC 信息已被清除；信息已显示；DMA和中断控制器的测试即将开始。
5A.按下 quotF2 quot设置显示的键。
5B.测试基本内存地址。
5C.测试640K基本内存。
60设置硬盘引导扇区的防护功能。通过DMA页寄存器的测试；将检查存储器。测试内存。
61显示系统配置表。验证结束；将测试DMA # 1的基本寄存器。
62用中断19H启动系统引导。通过DMA # 1基本寄存器的测试；DMA # 2寄存器即将被测试。测试存储器地址线。
63.通过DMA # 2基本寄存器的测试；检查BIOS ROM数据区。
64.BIOS ROM数据区已经检查了一半，所以继续。
65.检查BIOS ROM数据区是否完成；DMA设备1和2将被编程。
66.DMA设备1和2的编程完成；第59个中断控制器将用于初始准备。缓存在注册表中进行了优化配置。
67.8259初始准备已结束；键盘测试即将开始。
68 .让外部缓存和CPU内部缓存都工作。
6A.测试并显示外部缓存值。
6C.显示被阻止的内容。
6E.显示子公司配置信息。
70 .检测到的错误代码被发送到屏幕显示。
72 .检查配置是否有错误。
74.测试实时时钟。
76 .扫描键盘错误。
7A.锁定键盘。
7C.设置硬件中断向量。
7E.测试是否安装了数学处理器。
80.键盘测试已经开始。正在清除并检查任何卡住的键，键盘将很快恢复。关闭可编程输入/输出设备。
81.找出键盘复位错误卡住的键；键盘控制端口的测试命令即将发出。
82.键盘控制器接口测试后，将写入命令字节，并初步准备好循环缓冲区。并检测和安装固定的RS232接口。
83.命令字节已经写入，全局数据的初始准备已经完成；检查钥匙是否锁好。
84.已经检查过是否有锁键，会检查内存是否与CMOS不匹配。检测并安装固定并口。
85.已经检查了内存的大小；将显示软错误和密码或旁路设置。
86.密码已经过检查；旁路布置前的编程。再次打开可编程I/O设备，检查固定I/O是否冲突。
87.在安排之前完成编程；CMOS装置将被编程。
88.从CMOS调度器恢复清晰屏幕；接下来的编程即将进行。初始化BIOS数据区。
89.整理后完成编程；将显示开机画面信息。
8A。显示第一个屏幕信息。初始化扩展BIOS数据区。
8B。将显示消息：主BIOS和BIOS将被阻止。
8C。成功屏蔽主BIOS和BIOS将启动后CMOS排列选项的编程。初始化软驱控制器。
8D。已经安排了可选编程，接下来是检查滑鼠和初始准备。
8E。检测到鼠标，完成初始准备；将重置硬盘和软盘。
8F。软盘已经检查过了，将进行初步准备，然后配备软盘。
90.软盘配置完成；将测试硬盘的存在。硬盘控制器初始化。
91.硬盘存在测试结束；然后配置硬盘。本地总线硬盘控制器的初始化。
92.硬盘配置完成；检查BIOS ROM的数据区。跳到用户路径2。
93.BIOS ROM的数据区已经检查了一半；去吧。
94.检查完BIOS ROM的数据区后，设置基本和扩展内存的大小。关闭a-20地址行。
95.根据鼠标和硬盘的支持调整内存大小47型；即将检查显示内存。
96.检查显示内存并恢复；也就是C800: 0可选ROM控制前的初始准备。ES段 quot注册表被清除。
.C800: 0可选ROM控制完成前的任何初始准备，然后检查和控制可选ROM。
98.可选ROM的控制完成；即，在执行可选的ROM恢复控制之后所需的任何处理。查找ROM选择。
99.可选ROM测试后所需的任何初始准备结束；将要建立计时器的数据区或打印机基址。
9A。设置定时器和打印机基本地址后返回操作；即设置了RS-232的基本地址。屏蔽ROM选择。
9B。RS-232基本地址后返回；协处理器测试的初始准备即将进行。
9C。协处理器测试前的初始准备结束；然后让协处理器做初始准备。建立供电节能管理。
9D。协处理器进行初始准备，即协处理器测试后的任何初始准备。
9E。协处理器的初始准备完成后，将检查扩展键盘、键盘标识符和数字锁。打开硬件中断。
9F。扩展键盘已经检查完毕，设置识别标志，开启或关闭数码锁，将发出键盘识别命令。
A0。发出键盘识别命令；键盘识别标志将被恢复。设置时间和日期。
A1、恢复键盘识别标志；然后测试高速缓冲存储器。
A2、缓存测试完成；任何软错误都将显示出来。检查键盘锁。
A3。软错误显示结束；我 我要设定键盘敲击的速度。
A4。调整键盘的命中率，内存的等待状态就算出来了。键盘重复输入率的初始化。
A5。存储器等待状态结束；然后屏幕将被清除。
A6。屏幕已被清除；奇偶和非屏蔽中断即将开始。
A7。启用不匹配的中断和奇偶校验；也就是说，将进行在E000: 0控制可选ROM所需的任何初始准备。
A8。控制ROM在E000: 0之前完成初始准备，然后控制E000: 0之后所需的任何初始准备。清除F2键提示。
A9。从控制E000:0 rom返回后，将进行控制E000:0可选ROM后所需的任何初始准备。
AA。完成在E000: 0控制可选ROM后的初始准备；将显示系统的配置。扫描 quotF2 quot击键。
交流电.输入设置。
自动曝光装置.清除上电自测标志。
B0.检查非关键错误。
B2.开机自检完成，准备进入操作系统引导。
B4.蜂鸣器响了。
B6.检测密码设置。
B8.清除所有描述表。
公元前.清除检查值。
BE的程序默认值进入控制芯片，符合可调制二进制默认值表。清除屏幕。
测试CMOS设置值。检测并提示进行数据备份。
初始化C0缓存。尝试用中断19启动。
C1记忆自测。寻找 quot55 quot和 quotAA quot引导扇区中的标记。
C3 第一次256K内存测试。
从C5 ROM中复制BIOS进行快速自检。
C6缓存自测。
检查CA Micronies的缓存并进行初始准备。
王者之心2点击试玩
电脑故障诊断卡代码显示00是什么故障？代表什么意思呢？
电脑故障诊断卡代码显示00：刚开机就直接到00或者FF是CPU或者主板芯片坏，需要拿到电脑店进行修理。
电脑主板故障诊断卡代码注释：
1、C0：开机检测代码显示C0，这为主板BIOS故障或者主板芯片已坏。
2、C1：C1本为检测是否内存通过，停止即为不过，但是主板也有故障嫌疑的。
3、C3：内存问题D3、D4：此都为内存问题，但是主板内存插槽也有可能，多数出在AMD的板上，这时可以把CPU风扇拿出来，上紧CPU再进行通电测试。
4、25: 25为显卡或插槽问题，一般清过主板BIOS就能亮机。不然就换过显卡。
5、26或者2b：亮机，不亮机考虑显卡。
6、31：显卡或插槽问题。
扩展资料：
其他代码的意思：
1、11 测试DMA通道1。 CMOS状态寄存器已作初始准备，即将停用DMA和中断控制器。 第一个64DK RAM第1位故障。
2、12 测试DMA页面寄存器。 停用DMA控制器1以及中断控制器1和2；即将显示器并使端口B作初始准备。 第一个64DK RAM第2位故障。
3、13 测试8741键盘控制器接口。 显示器已停用，端口B已作初始准备；即将开始电路片初始化/存储器自动检测。 第一个64DK RAM第3位故障。
4、14 测试存储器更新触发电路。 电路片初始化/存储器处自动检测结束；8254计时器测试即将开始。 第一个64DK RAM第4位故障。
5、15 测试开头64K的系统存储器。 第2通道计时器测试了一半；8254第2通道计时器即将完成测试。 第一个64DK RAM第5位故障。
6、16 建立8259所用的中断矢量表。 第2通道计时器测试结束；8254第1通道计时器即将完成测试。 第一个64DK RAM第6位故障。
百度百科-电脑主板故障诊断卡
电脑主板测试卡显示D5是什么意思？
主板测试卡说明代码 Award BIOS Ami BIOS Phoenix BIOS或Tandy 3000 BIOS
00 . 已显示系统的配置；即将控制INI19引导装入。 .
01 处理器测试1，处理器状态核实,如果测试失败，循环是无限的。 处理器寄存器的测试即将开始，不可屏蔽中断即将停用。 CPU寄存器测试正在进行或者失败。
02 确定诊断的类型（正常或者制造）。如果键盘缓冲器含有数据就会失效。 停用不可屏蔽中断；通过延迟开始。 CMOS写入／读出正在进行或者失灵。
03 清除8042键盘控制器，发出TESTKBRD命令（AAH） 通电延迟已完成。 ROM BIOS检查部件正在进行或失灵。
04 使8042键盘控制器复位，核实TESTKBRD。 键盘控制器软复位／通电测试。 可编程间隔计时器的测试正在进行或失灵。
05 如果不断重复制造测试1至5，可获得8042控制状态。 已确定软复位／通电；即将启动ROM。 DMA初如准备正在进行或者失灵。
06 使电路片作初始准备，停用、奇偶性、DMA电路片，以及清除DMA电路片，所有页面寄存器和CMOS停机字节。 已启动ROM计算ROM BIOS检查总和，以及检查键盘缓冲器是否清除。 DMA初始页面寄存器读／写测试正在进行或失灵。
07 处理器测试2，核实CPU寄存器的工作。 ROM BIOS检查总和正常，键盘缓冲器已清除，向键盘发出BAT（基本保证测试）命令。 .
08 使CMOS计时器作初始准备，正常的更新计时器的循环。 已向键盘发出BAT命令，即将写入BAT命令。 RAM更新检验正在进行或失灵。
09 EPROM检查总和且必须等于零才通过。 核实键盘的基本保证测试，接着核实键盘命令字节。 第一个64K RAM测试正在进行。
0A 使接口作初始准备。 发出键盘命令字节代码，即将写入命令字节数据。 第一个64K RAM芯片或数据线失灵，移位。
0B 测试8254通道0。 写入键盘控制器命令字节，即将发出引脚23和24的封锁／解锁命令。 第一个64K RAM奇／偶逻辑失灵。
0C 测试8254通道1。 键盘控制器引脚23、24已封锁／解锁；已发出NOP命令。 第一个64K RAN的地址线故障。
0D 1、检查CPU速度是否与系统时钟相匹配。2、检查控制芯片已编程值是否符合初设置。3、通道测试，如果失败，则鸣喇叭。 已处理NOP命令；接着测试CMOS停开寄存器。 第一个64K RAM的奇偶性失灵
0E 测试CMOS停机字节。 CMOS停开寄存器读／写测试；将计算CMOS检查总和。 初始化输入／输出端口地址。
0F 测试扩展的CMOS。 已计算CMOS检查总和写入诊断字节；CMOS开始初始准备。 .
10 测试DMA通道0。 CMOS已作初始准备，CMOS状态寄存器即将为日期和时间作初始准备。 第一个64K RAM第0位故障。
11 测试DMA通道1。 CMOS状态寄存器已作初始准备，即将停用DMA和中断控制器。 第一个64DK RAM第1位故障。
12 测试DMA页面寄存器。 停用DMA控制器1以及中断控制器1和2；即将显示器并使端口B作初始准备。 第一个64DK RAM第2位故障。
13 测试8741键盘控制器接口。 显示器已停用，端口B已作初始准备；即将开始电路片初始化／存储器自动检测。 第一个64DK RAM第3位故障。
14 测试存储器更新触发电路。 电路片初始化／存储器处自动检测结束；8254计时器测试即将开始。 第一个64DK RAM第4位故障。
15 测试开头64K的系统存储器。 第2通道计时器测试了一半；8254第2通道计时器即将完成测试。 第一个64DK RAM第5位故障。
16 建立8259所用的中断矢量表。 第2通道计时器测试结束；8254第1通道计时器即将完成测试。 第一个64DK RAM第6位故障。
17 调准输入／输出工作，若装有BIOS则启用。 第1通道计时器测试结束；8254第0通道计时器即将完成测试。 第一个64DK RAM第7位故障。
18 测试存储器，如果安装选用的BIOS通过，由可绕过。 第0通道计时器测试结束；即将开始更新存储器。 第一个64DK RAM第8位故障。
19 测试第1通道的中断控制器（8259）屏蔽位。 已开始更新存储器，接着将完成存储器的更新。 第一个64DK RAM第9位故障。
声明：本站所有文章资源内容，如无特殊说明或标注，均为采集网络资源。如若本站内容侵犯了原著者的合法权益，可联系本站删除。
